介質(zhì)損耗試驗是測量小型電容量電氣設(shè)備整體絕緣受潮和老化的一項重要試驗。介質(zhì)損耗角正切值只與介質(zhì)材料本身屬性有關(guān),與電氣設(shè)備的尺寸和絕緣的結(jié)構(gòu)無關(guān),所以對介質(zhì)損耗的測量主要是指測量介質(zhì)損耗角正切值。在測量tanδ之前,必須測量絕緣電阻,以確定套管表面是否需要處理,套管本身的絕緣電阻一般都是很高的。
為了消除套管表面受潮對tanδ值的影響,曾經(jīng)采用接屏蔽環(huán)的方法。經(jīng)過幾年應(yīng)用發(fā)現(xiàn),測得的tanδ值偏小甚至出現(xiàn)負(fù)值。經(jīng)分析認(rèn)為,這種虛假偏小或負(fù)值都是由于接屏蔽造成的,此方法應(yīng)該停止使用。介損試驗電壓不能超過測量儀器的*高工作電壓,也不能超過被試品的額定電壓。對串級式電壓互感器采用反接線測量tanδ時,試驗電壓不應(yīng)超過250v。
對于電力變壓器等電容量較大的電氣設(shè)備,全自動油介質(zhì)損耗測試儀采用交流電橋進(jìn)行tanδ試驗時,應(yīng)考慮容升效應(yīng),試驗電壓應(yīng)在高壓側(cè)直接測量,還應(yīng)注意試驗變壓器的容量是否合適;介質(zhì)損耗測試儀接地端子必須可靠接地。
接線方法:當(dāng)被測試設(shè)備的低壓測量端對地絕緣時,可以采用該接線法測量。高壓電纜hvx的屏蔽線接被試設(shè)備高壓端;低壓電纜cx的低壓芯線接被試設(shè)備低壓端l;cx的低壓屏蔽線接被試設(shè)備屏蔽端e;當(dāng)被測試設(shè)備的低壓端對地?zé)o法絕緣時或接地時,可以采用反接線法測量;高壓電纜hvx的高壓芯線接被試設(shè)備高壓端;hvx的屏蔽線懸空。