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吉時利2410測量電鏡中的被測件(如何去除積累電荷對測量的影響)

發(fā)布時間:2024-05-08
吉時利2410 sourcemeter smu 儀器,測量電鏡中的被測件(如何去除積累電荷對測量的影響)問題:吉時利2410 sourcemeter smu 儀器,測量電鏡中的被測件(如何去除積累電荷對測量的影響)
回答:4200系統(tǒng)測量時可以直接進行處理使得電荷放電至地點。
單臺源表做類似測量時,先加載0v電壓源測量i,將線路導通放電;延遲一段時間后,在加載需要的電壓進行正常的測量。
此常見問題適用于:
product series:keithley smu 2400 圖形系列 sourcemeter,2400 系列 smu
product:2400
常見問題id :473396
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