在日常生活中，我們經(jīng)常使用各種產(chǎn)品，并期望它們具有高度的品質(zhì)和可靠性。然而，在實(shí)際應(yīng)用中，這些產(chǎn)品往往會(huì)受到一些外部因素的影響，例如塵埃、微小顆粒等。這時(shí)候就需要采用清潔度顆粒分析系統(tǒng)來(lái)幫助我們理解材料表面上所存在的問題。
清潔度顆粒分析系統(tǒng)是一種可以對(duì)材料進(jìn)行非接觸式檢測(cè)和測(cè)量其表面污染情況及局部區(qū)域內(nèi)污染程度的設(shè)備。它通過光學(xué)技術(shù)、計(jì)算機(jī)處理以及數(shù)據(jù)圖像顯示等多個(gè)方面組成了一個(gè)完整而先進(jìn)的體系結(jié)構(gòu)。
該系統(tǒng)將使用激光器作為掃描工具來(lái)探究材料或者被檢驗(yàn)物件表面信息。由于激光束能夠產(chǎn)生單色聚焦光源并使其集中于特定區(qū)域，因此不僅保證了掃描速率快，能夠準(zhǔn)確地獲取樣本資訊，并且也避免了其他可能導(dǎo)致誤差出現(xiàn)獲得錯(cuò)誤結(jié)果。
通過將激光束掃描該物件表面，儀器能夠快速捕獲到材料表面上的顆粒信息。這時(shí)，系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)地選擇合適的聚焦長(zhǎng)度和深度，并對(duì)微小顆粒進(jìn)行檢測(cè)分析。系統(tǒng)還可根據(jù)操作者設(shè)置的參數(shù)來(lái)判定樣本中有害或無(wú)益顆粒并在圖像界面上顯示出來(lái)。
清潔度顆粒分析系統(tǒng)可以通過軟件工具幫助用戶將所獲取數(shù)據(jù)處理成3d立體圖形，并且提供詳細(xì)報(bào)告以及預(yù)測(cè)模型，從而在企業(yè)生產(chǎn)過程中為品質(zhì)控制提供參考依據(jù)。
清潔度顆粒分析系統(tǒng)是一個(gè)非常高效、準(zhǔn)確和先進(jìn)技術(shù)級(jí)別前沿化的設(shè)備。它不僅解決了我們手工挑選缺點(diǎn)多、不容易評(píng)估問題存在情況等方面困難，而且也簡(jiǎn)化了“大規(guī)模”產(chǎn)品測(cè)試流程。