——tms透過(guò)率檢測(cè)系統(tǒng)可觀測(cè)物品變化過(guò)程
我司研發(fā)部使用tms透過(guò)率檢測(cè)系統(tǒng)分析光、電、磁變色材料光譜特性，通過(guò)采集被測(cè)樣品的透過(guò)/反射率變化譜圖，進(jìn)而分析樣品透過(guò)率和吸光度隨時(shí)間的變化過(guò)程。tms透過(guò)率檢測(cè)系統(tǒng)可以迅速采集和觀察到物品的整個(gè)變化過(guò)程，可記錄全譜的變化趨勢(shì)且單次掃描時(shí)間zui快可達(dá)3毫秒。這一方案將有助于光、電、磁致變色材料光譜特性的研究，為物質(zhì)光譜特性研究提供更多可能性，譬如將可以進(jìn)一步研究熒光的壽命問(wèn)題。下圖為532nm下透過(guò)率光譜曲線（約采集樣品3000個(gè)）：