為測(cè)量任務(wù)選擇合適的探測(cè)系統(tǒng)并不總是一件容易的事。為獲得有效的投資回報(bào)，的方式是從確定工件所需的應(yīng)用、靈活性和測(cè)量范圍開(kāi)始。
1. 測(cè)頭的選擇：
選擇測(cè)頭要考慮以下幾點(diǎn)：
◆ 在可以應(yīng)用接觸式測(cè)頭的情況下，慎選非接觸式測(cè)頭；
◆ 在只測(cè)尺寸、位置要素的情況下盡量選接觸式觸發(fā)測(cè)頭；
◆ 考慮成本又能滿(mǎn)足要求的情況下，盡量選接觸式觸發(fā)測(cè)頭；
◆ 對(duì)形狀及輪廓精度要求較高的情況下選用掃描測(cè)頭；
◆ 掃描測(cè)頭應(yīng)當(dāng)可以對(duì)離散點(diǎn)進(jìn)行測(cè)量；考慮掃描測(cè)頭與觸發(fā)測(cè)頭的互換性(一般用通用測(cè)座來(lái)達(dá)到)；
◆ 易變形零件、精度不高零件、要求超大量數(shù)據(jù)零件的測(cè)量，可以考慮采用非接觸式測(cè)頭；
◆ 要考慮軟件、附加硬件(如測(cè)頭控制器、電纜)的配套。
2. 不同測(cè)頭適用的場(chǎng)合
◆ 觸發(fā)測(cè)頭：當(dāng)零件所被關(guān)注的是尺寸，間距或位置，而并不強(qiáng)調(diào)其形狀誤差，而注意力主要放在尺寸和位置精度時(shí)，接觸式觸發(fā)測(cè)量是合適的，特別是對(duì)于離散點(diǎn)的測(cè)量。 觸發(fā)式測(cè)頭測(cè)尺寸、間距或位置比掃描測(cè)頭快，觸發(fā)測(cè)頭體積較小，當(dāng)測(cè)量空間狹窄時(shí)測(cè)頭易于接近零件。 一般來(lái)講觸發(fā)式測(cè)頭使用及維修成本較低；因此，接觸式觸發(fā)測(cè)頭依然是坐標(biāo)測(cè)量的主流。
◆ 觸發(fā)測(cè)頭的優(yōu)勢(shì)及劣勢(shì)
優(yōu)勢(shì)：
1、適于空間箱體類(lèi)工件及巳知表面的測(cè)量；
2、通用性強(qiáng)，采購(gòu)及運(yùn)行成本低；
3、有多種不同類(lèi)型的觸發(fā)測(cè)頭及附件供采用；
4、適用于尺寸測(cè)量及在線應(yīng)用；
5、堅(jiān)固耐用；
6、體積小，易于在窄小空間應(yīng)用；
7、由于測(cè)點(diǎn)時(shí)測(cè)量機(jī)處于勻速直線低速狀態(tài)，測(cè)量機(jī)的動(dòng)態(tài)性能對(duì)測(cè)量精度影響較小；
劣勢(shì)：測(cè)量取點(diǎn)率低。
◆ 掃描測(cè)頭：應(yīng)用于有形狀要求的零件和輪廓的測(cè)量：掃描方式測(cè)量的主要優(yōu)點(diǎn)在于能高速的采集數(shù)據(jù)，這些數(shù)據(jù)不僅可以用來(lái)確定零件的尺寸及位置，更重要的是能用眾多的點(diǎn)來(lái)精確的描述形狀、輪廓，這特別適用于對(duì)形狀、輪廓有嚴(yán)格要求的零件，該零件形狀直接影響零件的性能(如葉片、橢圓活塞等)；也適用于你不能確信你所用的加工設(shè)備能加工出形狀足夠好的零件，而形狀誤差成為主要問(wèn)題時(shí)的情況。
高精度測(cè)量：由于掃描測(cè)頭對(duì)離散點(diǎn)測(cè)量是勻速或恒測(cè)力采點(diǎn)，其測(cè)點(diǎn)精度可以更高。
同時(shí)，掃描測(cè)頭可以直接判斷接觸點(diǎn)的法矢，對(duì)于要求嚴(yán)格定位、定向測(cè)量的場(chǎng)合，掃描測(cè)頭對(duì)離散點(diǎn)的測(cè)量也具有優(yōu)勢(shì)。
對(duì)于未知曲面的掃描，亦即稱(chēng)為數(shù)字化的場(chǎng)合下，掃描測(cè)頭顯示出了它的*優(yōu)勢(shì)：因?yàn)閿?shù)字化工作方式時(shí)，需要大量的點(diǎn)，觸發(fā)式測(cè)頭的采點(diǎn)方式顯得太慢；由于是未知曲面，測(cè)量機(jī)運(yùn)動(dòng)的控制方式亦不一樣，即在“探索方式”下工作；測(cè)量機(jī)根據(jù)巳運(yùn)動(dòng)的軌跡來(lái)計(jì)算下一步運(yùn)動(dòng)的軌跡、計(jì)算采點(diǎn)密度等。
◆ 掃描測(cè)頭的優(yōu)勢(shì)及劣勢(shì)
優(yōu)勢(shì)：
1）適于形狀及輪廓測(cè)量；
2）高的采點(diǎn)率；
3）高密度采點(diǎn)保證了良好的重復(fù)性、再現(xiàn)性；
4）更高級(jí)的數(shù)據(jù)處理能力；
劣勢(shì)：
1）比觸發(fā)測(cè)頭復(fù)雜；
2）對(duì)離散點(diǎn)的測(cè)量較觸發(fā)測(cè)頭為慢；
3）高速掃描時(shí)由于加速度而引起的動(dòng)態(tài)誤差很大，不可忽略，必須加以補(bǔ)償；
4）針尖的磨損必須注意；
5）價(jià)格昂貴，使用成本非常高；
◆ 非接觸式測(cè)頭：非接觸測(cè)頭沒(méi)有測(cè)量力，適于柔軟物體；非接觸式測(cè)頭取樣率高，在50 次/秒到23000 次/秒之間，適于表面形狀復(fù)雜，精度要求不特別高的未知曲面，例如汽車(chē)、家電的木模、泥模等。但非接觸測(cè)頭由于受物體表面特性(顏色、光度、粗糙度、形狀等)的影響較大，目前在大多數(shù)情況下，示值誤差比接觸式測(cè)頭要大，保持在10 微米級(jí)以上。同時(shí)，非接觸測(cè)頭的價(jià)格一般較貴。
選用非接觸式測(cè)頭的原則是：易變形零件、精度不高零件、要求超大量數(shù)據(jù)零件的測(cè)量，可以考慮采用非接觸式測(cè)頭；要考慮軟件、附加硬件(如測(cè)頭控制器、電纜)的配套。