奧林巴斯微單x射線熒光（xrf）礦石檢測儀給予性能**的即時(shí)地球化學(xué)數(shù)據(jù)信息，用以土壤層重金屬超標(biāo)，巖層成份和礦石品味和原素含量的剖析。奧林巴斯微單x射線熒光光（xrf）礦石檢測儀技術(shù)性的消息提升了精確測量原素的總數(shù)，提升了檢出限，并縮減了材料分析測試時(shí)間。
礦石檢測儀vantaxrf礦石檢測儀可用以金礦的實(shí)地檢測，金礦試驗(yàn)室檢測和特制金礦商品的迅速精確測量勘查。
優(yōu)勢：1.根據(jù)xrf礦石元素分析儀剖析土壤層重金屬超標(biāo)，巖層和礦石中的原素，迅速表明潛在性的au礦遍布狀況；2.根據(jù)應(yīng)用xrf礦石元素分析儀預(yù)挑選試品，優(yōu)先選擇試品挑選，剖析估算和選中打孔總體目標(biāo)；3.根據(jù)xrf礦石元素分析儀制作結(jié)構(gòu)類型圖，模型和矢量化，降低稀釋液和搞好金礦的回收利用；4.根據(jù)應(yīng)用xrf礦石元素分析儀開展巖層地球化學(xué)的簡易和迅速巖石類型剖析；
礦石檢測儀用以礦物質(zhì)勘查和礦體矢量素材的金剖析和檢測的攜帶式xrf礦石元素分析儀：
金礦床的有關(guān)地球化學(xué)特點(diǎn)
大部分金礦床都是有相應(yīng)的地球化學(xué)特點(diǎn)。xrf礦石元素分析儀檢測儀能夠檢驗(yàn)這種地球化學(xué)特點(diǎn)，使地理學(xué)家可以更好的掌握她們運(yùn)行的地質(zhì)環(huán)境系統(tǒng)軟件。典型性的金檢測的隨著原素包含as，cu，pb，zn，sb，bi，ag和w.選用vanta vmr geochem方式的xrf礦石元素分析儀的檢驗(yàn)低限：
*每束120秒的檢測時(shí)間，無影響的sio2栽培基質(zhì); 相關(guān)檢驗(yàn)低限（lod）的進(jìn)一步探討，客戶程序廣宇*olympus lod文本文檔
礦石檢測儀用以檢驗(yàn)金的xrf礦石元素分析儀大家都知道，便攜式xrf礦石元素分析儀不兼容在地質(zhì)環(huán)境試品中立即適度性精確測量au（比如，低ppm和ppb）。根據(jù)檢測實(shí)驗(yàn)室的火實(shí)驗(yàn)技術(shù)性一般被覺得是au剖析的優(yōu)選方式 。au l級x射線坐落于x射線瑩光能譜儀的十分緊湊的范圍中。在該一部分光譜儀中，來源于別的原素（比如，as，zn，w和se）的影響能夠造成陽性au測量。根據(jù)xrf礦石元素分析儀立即精確測量au能夠在特殊狀況下完成，比如高含量的（> 5ppm）石英石脈自然環(huán)境（相對性無影響）或特制au商品（在其中au以十分高的濃度值存有）。因而：愈來愈多的au當(dāng)場開采試驗(yàn)室已經(jīng)應(yīng)用xrf礦石元素分析儀替代試驗(yàn)室的火實(shí)驗(yàn)技術(shù)性。