工業(yè)低溫試驗(yàn)箱，微電腦高低溫試驗(yàn)箱，恒定/交變濕熱測(cè)試，整車高低溫環(huán)境試驗(yàn)倉(cāng)，高低溫度交變濕熱箱，高低溫濕熱交變測(cè)試箱/電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備
inspection methods for environmental testing equipments for electric and electronic products--
damp heat testing equipments
2008-06-16 發(fā)布2009-03-01 實(shí)施
中華人民共和國(guó)發(fā)布
中 國(guó)
目次
前言ii
1范圍1
2規(guī)范性引用文件1
3術(shù)語(yǔ)和定義1
4檢驗(yàn)項(xiàng)目1
5檢驗(yàn)用主要儀器及要求2
6檢驗(yàn)負(fù)載2
7檢驗(yàn)條件2
8檢驗(yàn)方法2
9數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果10
10檢驗(yàn)周期10
附錄 a （規(guī)范性附錄） 檢驗(yàn)項(xiàng)目的選擇11
附錄 b （規(guī)范性附錄） 干濕表法測(cè)量相對(duì)濕度12
前言
gb/t 5170包含以下部分：
——gb/t 5170.1－2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法總則
——gb/t 5170.2－2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備
——gb/t 5170.5－2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備
——gb/t 5170.8－2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備
——gb/t 5170.9－2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法太陽(yáng)輻射試驗(yàn)設(shè)備
——gb/t 5170.10－2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備
——gb/t 5170.11－2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備
——gb/t 5170.13－2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用機(jī)械振動(dòng)臺(tái)
——gb/t 5170.14－1985 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)
——gb/t 5170.15－2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用液壓振動(dòng)臺(tái)
——gb/t 5170.16－2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法穩(wěn)態(tài)加速度試驗(yàn)用離心機(jī)
——gb/t 5170.17－2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗(yàn)設(shè)備
——gb/t 5170.18－2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備
——gb/t 5170.19－2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)設(shè)備
——gb/t 5170.20－2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法水試驗(yàn)設(shè)備本部分是gb/t 5170的第5部分。
本部分代替gb/t 5170.5－1996。與gb/t 5170.5－1996相比，技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化：
——標(biāo)準(zhǔn)名稱“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備”更改為“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備”；
——所有用詞“檢定”更改為“檢驗(yàn)”；
——增加了“術(shù)語(yǔ)和定義”一章；
——增加了“相對(duì)濕度波動(dòng)度”檢驗(yàn)項(xiàng)目；
——增加了“相對(duì)濕度均勻度” 檢驗(yàn)項(xiàng)目；
——增加了“每 5min 溫度平均變化速率” 檢驗(yàn)項(xiàng)目；
——增加了“溫度指示誤差” 檢驗(yàn)項(xiàng)目；
——增加了“相對(duì)濕度指示誤差” 檢驗(yàn)項(xiàng)目；
——增加了“溫度過沖量” 檢驗(yàn)項(xiàng)目；
——增加了“相對(duì)濕度過沖量” 檢驗(yàn)項(xiàng)目；
——增加了“溫度過沖恢復(fù)時(shí)間” 檢驗(yàn)項(xiàng)目；
——增加了“相對(duì)濕度過沖恢復(fù)時(shí)間” 檢驗(yàn)項(xiàng)目；
——增加了“噪聲” 檢驗(yàn)項(xiàng)目；
——在“檢驗(yàn)用主要儀器及要求”一章中，給出了溫度測(cè)量系統(tǒng)和濕度測(cè)量系統(tǒng)其測(cè)量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度（k=2）的要求；
——增加了“檢驗(yàn)負(fù)載”一章；
——測(cè)量數(shù)據(jù)記錄改為每一分鐘記錄一次數(shù)據(jù)；
——增加了附錄 a “檢驗(yàn)項(xiàng)目的選擇”；
——增加了附錄 b “干濕表法測(cè)量相對(duì)濕度”。附錄a和附錄b為規(guī)范性附錄。
本部分由全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(sac/tc 8)提出并歸口。本部分起草單位：電子第五研究所。
本部分主要起草人：伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國(guó)良。本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況：
——gb/t 5170.5-1985，gb/t 5170.6-1985，gb/t 5170.7-1985，gb/t 5170.5-1996。
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備
1范圍
gb/t 5170的本部分規(guī)定了濕熱試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。
本部分適用于對(duì)gb/t 2423.3《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)cab：恒定濕熱試驗(yàn)》、gb/t 2423.4《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)db：交變濕熱試驗(yàn)方法》和gb/t 2423.16
《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)j：長(zhǎng)霉》所用試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)/驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。
本部分也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。
2規(guī)范性引用文件
下列文件中的條款通過gb/t 5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件， 其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的版本。凡是不注日期的引用文件，其版本適用于本部分。
gb/t 2423.3 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)cab：恒定濕熱試驗(yàn)（gb/t 2423.3
－2006， iec 60068－2－78：2001，idt）
gb/t 2423.4電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)db：交變濕熱試驗(yàn)方法（gb/t 2423.4－2008， iec 60068－2－30：2005，idt）
gb /t 2423.16電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)j：長(zhǎng)霉（gb/t 2423.16－1999， idt iec 60068－2－10：1988）
gb/t 2424.6電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度/濕度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)（gb/t 2424.6－2006， iec 60068－3－6：2001，idt）
gb/t 5170.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法總則gb/t 6999環(huán)境試驗(yàn)用相對(duì)濕度查算表
gb/t 16839.1 熱電偶第1部分：分度表（gb/t 16839.1－1997，idt iec 60584－1：1995） iec 60751 工業(yè)鉑電阻敏感元件
3術(shù)語(yǔ)和定義
本部分采用gb/t 5170.1-2008規(guī)定的術(shù)語(yǔ)和定義。
4檢驗(yàn)項(xiàng)目
本部分的檢驗(yàn)項(xiàng)目如下：
——溫度偏差；
——相對(duì)濕度偏差；
——溫度波動(dòng)度；
——相對(duì)濕度波動(dòng)度；
——溫度均勻度；
——相對(duì)濕度均勻度；
——每 5min 溫度平均變化速率；
——風(fēng)速；
——升降溫特性；
——溫度指示誤差；
——相對(duì)濕度指示誤差；
——溫度過沖量；
——相對(duì)濕度過沖量；
——溫度過沖恢復(fù)時(shí)間；
——相對(duì)濕度過沖恢復(fù)時(shí)間；
——噪聲。
5檢驗(yàn)用主要儀器及要求
5.1溫度測(cè)量?jī)x器
采用由鉑電阻、熱電偶傳感器及二次儀表組成的溫度測(cè)量系統(tǒng)，其測(cè)量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度（k=2） 不大于被檢溫度允許偏差的1/3。
鉑電阻傳感器應(yīng)符合iec 60751的等級(jí)a，熱電偶傳感器應(yīng)符合gb/t 16839.1。
傳感器在空氣中的50％響應(yīng)時(shí)間應(yīng)在10s～40s之間，溫度測(cè)量系統(tǒng)的響應(yīng)時(shí)間應(yīng)小于40s。
5.2濕度測(cè)量?jī)x器
采用干濕球溫度計(jì)或由其他濕度傳感器組成的濕度測(cè)量系統(tǒng)，其測(cè)量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度（k=2） 不大于被測(cè)濕度允許偏差的1/3。
5.3風(fēng)速測(cè)量?jī)x器
采用各種風(fēng)速儀，其感應(yīng)量不大于0.05m/s。
5.4噪聲測(cè)量?jī)x器
帶a計(jì)權(quán)網(wǎng)絡(luò)的聲級(jí)計(jì)，其測(cè)量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度（k=2）不大于1db。
6檢驗(yàn)負(fù)載
按gb/t 5170.1-2008第7章的規(guī)定（或按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定）。
7檢驗(yàn)條件
7.1受檢試驗(yàn)設(shè)備在檢驗(yàn)時(shí)的氣候條件、電源條件、用水條件和其他條件應(yīng)符合 gb/t 5170.1-2008 第 4 章的規(guī)定。
7.2受檢試驗(yàn)設(shè)備的外觀和安全要求應(yīng)符合 gb/t 5170.1-2008 第 8 章的規(guī)定。
8檢驗(yàn)方法
8.1溫度偏差、相對(duì)濕度偏差、溫度波動(dòng)度、相對(duì)濕度波動(dòng)度、溫度均勻度、相對(duì)濕度均勻度、溫度指示誤差、相對(duì)濕度指示誤差、每 5min 溫度平均變化速率、風(fēng)速的檢驗(yàn)方法
8.1.1測(cè)量點(diǎn)數(shù)量及位置
8.1.1.1根據(jù)試驗(yàn)設(shè)備容積的大小，將工作空間分為上、中、下三層，中層通過工作空間幾何中心點(diǎn)。將一定數(shù)量的溫度、相對(duì)濕度傳感器布放在其中規(guī)定的位置上，傳感器不應(yīng)受冷熱源的直接輻射。
8.1.1.2測(cè)量點(diǎn)分別位于上、中、下三層。網(wǎng)絡(luò)收集數(shù)據(jù)，僅供參考
8.1.1.3溫度測(cè)量點(diǎn)用 o、a、b、c、d、e、f、g、h、j、k、l、m、n、u 表示。