zsx primusiii+在mlcc中的應(yīng)用
在鈦酸鋇生產(chǎn)過程中，非常重要指標(biāo)：鋇鈦摩爾比，簡(jiǎn)稱鋇鈦比。鋇鈦比直接影響鈦酸鋇的四方度，進(jìn)而影響鈦酸鋇的介電常數(shù)和絕緣電阻。對(duì)于高質(zhì)量的鈦酸鋇粉體，鋇鈦比的控制精度要求較高，一般控制精度要求小于0.001。通常是用化學(xué)滴定法檢測(cè)出batio3中bao和tio2的含量，就可計(jì)算ba/ti的摩爾比。但化學(xué)滴定法的精確程度只有0.002左右，且操作人員和環(huán)境對(duì)誤差的影響大，不能滿足鈦酸鋇中ba/ti摩爾比的要求。也可借助儀器設(shè)備(如icp-oes)精確測(cè)量ba和ti的元素含量，再計(jì)算ba/ti摩爾比。icp測(cè)微量元素準(zhǔn)確的測(cè)試設(shè)備，但需把樣品制備成液體，前處理需稀釋幾百上千倍，這過程易操帶來作誤差，且費(fèi)時(shí)費(fèi)力，不能滿足用戶時(shí)效性。
x射線熒光光譜分析技術(shù)擁有高精密度、高準(zhǔn)確性、制樣簡(jiǎn)單、可一次性報(bào)出所需目標(biāo)元素的結(jié)果，是解決以上難題的選擇，被越來越多的mlcc企業(yè)所采用。該方法的理論檢測(cè)精度達(dá)到0.0001-0.0003，滿足鈦酸鋇檢測(cè)的要求。
日本電子材料工業(yè)協(xié)會(huì)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格（emas）對(duì)鈦酸鋇的ba/ti摩爾比標(biāo)準(zhǔn)如下：
emas-4202
采用玻璃熔片法進(jìn)行鈦酸鋇的ba/ti摩爾比的熒光x射線分析法
emas-4203
采用壓片法進(jìn)行鈦酸鋇的ba/ti摩爾比的熒光x射線分析法
在emas行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)制定中，共有15家鈦酸鋇生產(chǎn)廠家參與制定。其中，13家使用的是理學(xué)的設(shè)備對(duì)鈦酸鋇中ba/ti摩爾比檢測(cè)，其檢測(cè)精度都在千分之一以下，能滿足企業(yè)對(duì)高質(zhì)量的鈦酸鋇粉體中ba/ti摩爾比控制要求。
理學(xué)公司的x射線熒光光譜儀掃描道zsx primus iii+對(duì)鈦酸鋇粉末質(zhì)量管理，其鈦鋇比標(biāo)準(zhǔn)偏差（摩爾比）～10-4。根據(jù)實(shí)測(cè)結(jié)果，zsx primus iii+的精度在0.0002~0.0003。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
1、4kw大功率高頻x射線發(fā)生器；
2、采用30μm超薄鈹窗膜大幅度提高檢測(cè)靈敏度；
3、上照式方式確保粉末樣品測(cè)試的安全可靠性；
4、儀器內(nèi)部平行雙真空室提高分析穩(wěn)定性；
5、全中文定性、定量分析、維護(hù)管理軟件；
6、對(duì)未知樣品的無標(biāo)樣分析—new sqx軟件。
分析實(shí)例