od7000系列西克sick高精度位移傳感器采用光譜共焦技術(shù)，以非常高的精度測量非常小的距離。
白光通過光纖和光纖耦合器傳輸?shù)教筋^，探頭中的透鏡將白光分成不同的波長并聚焦。每個波長都有自己的焦點的目標(biāo)表面被大程度地垂直反射的回傳感器頭和光纖接收，并被轉(zhuǎn)移到控制器中的光譜儀進(jìn)行分析聚焦目標(biāo)表面的波長比其他波長反射更強(qiáng)烈。
光譜顯示出明顯的峰值這個光譜峰對應(yīng)一個距離，可以用來有效確定到目標(biāo)表面的距離。
由控制器和探頭組成，結(jié)構(gòu)緊湊，易于集成?？刂破骺蛇x配編碼器輸入，都具有以太網(wǎng)接口，節(jié)省成本。
od7000系列西克sick高精度位移傳感器主要面對的是終端用戶、集成商和e&s行業(yè)的oem商，在面對在傳統(tǒng)激光位移傳感器無法有效測量時，系列西克sick高精度位移傳感器也可以提供解決方案。
od7000系列西克sick高精度位移傳感器產(chǎn)品特點：配備rs-422和以太網(wǎng)接口
三種測量范圍:600μm、4mm、10mm分辨率為25nm、180nm和400nm
線性度為198nm、1.4μm和4μm
緊湊的控制器尺寸
簡單易于使用的配置軟件
技術(shù)參數(shù)：
應(yīng)用范圍：玻璃測厚（單頭）
玻璃平面度測量(多傳感器頭)
涂料、膠水、漿料或密封劑的厚度
測量太陽能硅片鋸痕
檢測透明薄膜厚度測量(單傳感器頭)
不透明薄膜厚度測量(兩個傳感器頭)
應(yīng)用場景：玻璃行業(yè)—單頭測厚
電子和光伏行業(yè)—太陽能硅片測量平整度以及分選
機(jī)械制造和消費品行業(yè)—薄膜厚度檢測