全面升級xu-100 x熒光光譜測厚儀高精尖檢測技術(shù)，搞定企業(yè)品質(zhì)管控！xu-100是一款高性價比型鍍層測厚儀/膜厚測試儀/光譜測厚儀，采用下照式c型腔體設(shè)計，搭配微聚焦x射線發(fā)生器和高集成垂直光路系統(tǒng)，以及高敏變焦測距裝置，對各種大小異形件都可快速、精準(zhǔn)、無損測量。?檢測各種金屬鍍層，檢出限可達0.005μm，最小測量面積0.2mm2，凹槽深度測量范圍可達0-30mm，是一款測量鍍層厚度性價比高。
xu-100是一款高性價比型鍍層測厚儀/膜厚測試儀/光譜測厚儀，采用下照式c型腔體設(shè)計，搭配微聚焦x射線發(fā)生器和高集成垂直光路系統(tǒng)，以及高敏變焦測距裝置，對各種大小異形件都可快速、精準(zhǔn)、無損測量。?檢測各種金屬鍍層，檢出限可達0.005μm，最小測量面積0.2mm2，凹槽深度測量范圍可達0-30mm，是一款測量鍍層厚度性價比高、適用性強的機型。
應(yīng)用行業(yè)：
常見樣品：