1.環(huán)境適應(yīng)性強(qiáng)：對(duì)測(cè)量環(huán)境的要求較低，能適應(yīng)較惡劣的工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境，比如高溫（≤100℃ ）環(huán)境； df-psi系列粒度分析儀系統(tǒng)的測(cè)量部分（即探頭）直接與被測(cè)物料接觸，其采用了耐高溫材料制作，因此可適應(yīng)較高的環(huán)境溫度；
2.高腐蝕性環(huán)境：的探頭部分整體采用耐腐蝕材料制作，能適應(yīng)大多數(shù)強(qiáng)酸、強(qiáng)堿等高腐蝕性環(huán)境，對(duì)被測(cè)物料成分無(wú)特殊要求；
3.不受氣泡影響：對(duì)被測(cè)物料中的氣泡不敏感；
4.受大顆粒影響低：對(duì)被測(cè)物料中的大顆粒雜質(zhì)含量要求較低，大多數(shù)工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)物料中所含的少量大顆粒雜質(zhì)對(duì)其均不會(huì)構(gòu)成顯著影響
5.不受磁干擾影響：對(duì)被測(cè)物料的磁性不敏感。df-psi系列粒度分析儀的探頭采用弱磁性材料制作，被測(cè)物料不需要預(yù)先進(jìn)行脫磁處理；
6.粒度檢測(cè)范圍寬：進(jìn)行單模型一次標(biāo)定即可實(shí)現(xiàn)對(duì)zui大60個(gè)百分點(diǎn)粒度跨度范圍內(nèi)的粒度檢測(cè)任務(wù)，zui小也可實(shí)現(xiàn)20個(gè)百分點(diǎn)粒度跨度范圍內(nèi)的粒度檢測(cè)；
7.粒級(jí)跨度大能實(shí)現(xiàn)顆粒直徑zui小20μm至zui大1000μm（1mm）內(nèi)顆粒的粒度測(cè)量，這與其他種類的粒度儀分析儀相比要高很多；