不僅能觀察物體的輪廓、表面等，還能加上dic后，在材料顯微分析中使用微分干涉相襯法觀察物體，能夠容易判斷許多明場下所看不到的或難于判別的一些結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)或缺陷，常應(yīng)用于觀察導(dǎo)電粒子，壓迫等。
微分干涉相襯法具有對金相樣品的制備要求較低，所觀察到的樣品各組成相間的相對層次關(guān)系突出，同時(shí)也增加了各相間的反差。使其被觀察物呈明顯的浮雕狀，對顆粒、裂紋、孔洞以及凸起等。
光學(xué)效果在所有光學(xué)儀器中都是的品牌儀器，在微分干涉方面更是不落后別的品牌。
利用dic法，可以對金相組織的某些精細(xì)結(jié)構(gòu)進(jìn)行觀察，可以在降低金相制樣要求的情況下，通過dic染色把需要分析的物相突出出來，從而提高分析的準(zhǔn)確率。dic 法必然會在現(xiàn)代金相檢驗(yàn)中發(fā)揮其重要作用。
微分干涉相襯法基于傳統(tǒng)的正交偏光法，又巧妙地把dic 棱鏡和補(bǔ)色器（λ- 片）結(jié)合在一起，使所觀察的樣品以光學(xué)干涉的方法染上豐富的色彩，由于微分干涉相襯得效果與樣品細(xì)節(jié)的浮雕像以及色彩都是可以調(diào)節(jié)的，因而比正交偏光更為優(yōu)越。
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