高精度涂層測(cè)厚儀minitest 720
產(chǎn)品介紹
高精度涂層測(cè)厚儀minitest 720采用sidsp技術(shù)提升了測(cè)量的性，高精度可達(dá)±（1μm+0.75%讀值），minitest 720涂層測(cè)厚儀大測(cè)量范圍為15mm,可自由選擇f/n/fn探頭。
特點(diǎn)
sidsp使測(cè)量不受干擾，測(cè)值更加
可更換探頭使用更加靈活（epk 740探頭可由內(nèi)置換為外置）
fn探頭自動(dòng)識(shí)別基體，使測(cè)量更迅速，避免操作錯(cuò)誤
溫度補(bǔ)償功能避免溫度變化引起的錯(cuò)誤
生產(chǎn)過(guò)程中50點(diǎn)校準(zhǔn)使儀器獲得高度的特征曲線
大存儲(chǔ)量，能存儲(chǔ)10或100組多達(dá)100,000個(gè)讀數(shù)
讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值能單獨(dú)調(diào)出
超大，背光顯示屏，顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)
菜單指引操作，25種語(yǔ)言可選
帶irda接口，紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機(jī)和pc
可下載更新軟件
技術(shù)參數(shù)
型號(hào)
epk 720
探頭類型
內(nèi)置
數(shù)據(jù)記憶組數(shù)
10
存儲(chǔ)數(shù)據(jù)量
多10,000個(gè)
統(tǒng)計(jì)值
讀值個(gè)數(shù)，小值，大值，平均值，標(biāo)準(zhǔn)方差，變異系數(shù)，組統(tǒng)計(jì)值（標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置）
校準(zhǔn)程序符合標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范
iso，sspc，瑞典標(biāo)準(zhǔn)，澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)
校準(zhǔn)模式
出廠設(shè)置校準(zhǔn)，零點(diǎn)校準(zhǔn)，2點(diǎn)校準(zhǔn)，3點(diǎn)校準(zhǔn)，使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值
限值監(jiān)控
聲、光報(bào)警提示超過(guò)限
測(cè)量單位
um，mm，cm；mils，inch，thou
操作溫度
-10℃-60℃
存放溫度
-20℃-70℃
數(shù)據(jù)接口
irda 1.0（紅外接口）
電源
2節(jié)aa電池
標(biāo)準(zhǔn)
din en iso 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840
astm b244，b499，d7091，e376
as 3894.3，ss 1841 60，sspc-pa 2
體積
157mm x 75.5mm x 49mm
重量
約175g
探頭技術(shù)數(shù)據(jù)表
探頭
特性
f1.5，n0.7，fn1.5
f2
f5，n2.5，fn5
f15
f
n
f
f
n
f
測(cè)量范圍
0-1.5mm
0-0.7mm
0-2mm
0-5mm
0-2.5mm
0-15mm
使用范圍
小工件，薄涂層，跟測(cè)量支架一起使用
粗糙表面
標(biāo)準(zhǔn)探頭，使用廣泛
厚涂層
測(cè)量原理
磁感應(yīng)
電渦流
磁感應(yīng)
磁感應(yīng)
電渦流
磁感應(yīng)
信號(hào)處理
探頭內(nèi)部32位信號(hào)處理（sidsp）
度
±（1μm+0.75%讀值）
±（1.5μm+0.75%讀值）
±（5μm+0.75%讀值）
重復(fù)性
±（0.5μm+0.5%讀值）
±（0.8μm+0.5%讀值）
±（2.5μm+0.5%讀值）
低端分辨率
0.05μm
0.1μm
1μm
小曲率半徑（凸）
1.0mm
1.5mm
5mm
小曲率半徑（凹，外置探頭）
7.5mm
10mm
25mm
小曲率半徑（凹，內(nèi)置探頭）
30mm
30mm
30mm
小測(cè)量面積
φ5mm
φ10mm
φ25mm
小基體厚度
0.3mm
40μm
0.5mm
0.5mm
40μm
1mm
連續(xù)模式下測(cè)量速度
每秒20個(gè)讀數(shù)
單值模式下大測(cè)量速度
每分鐘70個(gè)讀數(shù)
標(biāo)準(zhǔn)配置：
帶塑料手提箱，內(nèi)含：
epk 720(內(nèi)置探頭)
或epk 730（外置探頭）
或epk740主機(jī)（不含探頭，有各種探頭可選）
校準(zhǔn)套裝含校準(zhǔn)片和零板
操作使用說(shuō)明cd，德語(yǔ)、英語(yǔ)、法語(yǔ)、西班牙語(yǔ)
2節(jié)aa電池
選購(gòu)件
f1.5/n0.7/fn1.5探頭用測(cè)量支架