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超聲波測(cè)厚儀的使用和注意事項(xiàng)

發(fā)布時(shí)間:2024-09-09
超聲波測(cè)厚儀的使用和注意事項(xiàng)
一:測(cè)厚儀的使用
我們了解下超聲波測(cè)厚儀的基本原理:超聲波測(cè)量厚度的原理與光波測(cè)量原理相似。探頭發(fā)射的超聲波脈沖到達(dá)被測(cè)物體并在物體中傳播,到達(dá)材料分界面時(shí)被反射回探頭,通過測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度。
然后我們準(zhǔn)備測(cè)量:
1.測(cè)量準(zhǔn)備:將探頭插頭插入主機(jī)插座中開機(jī),全屏幕顯示數(shù)秒后顯示聲速(5900m/s),此時(shí)可以開始測(cè)量。
2.校準(zhǔn):在每次更換探頭、電池及環(huán)境溫度變化較大時(shí)應(yīng)進(jìn)行校準(zhǔn)。此步驟對(duì)測(cè)量準(zhǔn)確度關(guān)鍵。如有必要可重復(fù)多次,按校準(zhǔn)鍵進(jìn)入校準(zhǔn)狀態(tài),用耦合劑將探頭與隨機(jī)試塊耦合(一般校準(zhǔn)快都在儀器身上),屏幕顯示的橫線將逐條消失,直到屏幕顯示4.0mm即校準(zhǔn)完畢,拿開探頭后厚度值保持,耦合標(biāo)志消失。
說(shuō)明:當(dāng)探頭與被測(cè)材料耦合時(shí),顯示耦合標(biāo)志,如果耦合標(biāo)志閃爍或不出現(xiàn)說(shuō)明耦合不好。當(dāng)材料實(shí)際聲速與5900m/s不同時(shí),按以下公式計(jì)算實(shí)際厚度值:ho=h×vo/5900,公式中h—5900m/s聲速下測(cè)得厚度值;vo—材料實(shí)際聲速值;ho—材料實(shí)際厚度值。
3.開始測(cè)量工件
二:使用測(cè)厚儀的注意事項(xiàng):
1.測(cè)量前應(yīng)清除被測(cè)物體表面所有的灰塵、污垢及銹蝕物,鏟除油漆等覆蓋物。
2.過分粗糙的表面會(huì)引起測(cè)量誤差,甚至無(wú)讀數(shù),測(cè)量前應(yīng)盡量使被測(cè)材料表面光滑,可使用磨、拋、挫等方法使其光滑,還可以使用高粘度耦合劑,選用粗晶探頭sz2.5p。3.粗機(jī)加工表面所造成的有規(guī)則的細(xì)槽也會(huì)引起測(cè)量誤差,彌補(bǔ)方法同
3.另外調(diào)整探頭串音隔層板(穿過探頭底面中心的薄層)與被測(cè)材料細(xì)槽之間的夾角,使隔層板與細(xì)槽相互垂直或平行,取讀數(shù)中的zui小值作為測(cè)量厚度,可取得較好效果。
4.測(cè)量圓柱型材料,如管子、油桶等,選擇探頭串音隔層板與被測(cè)材料軸線之間的夾角至關(guān)重要。簡(jiǎn)單說(shuō),將探頭與被測(cè)材料耦合,探頭串音隔層板與被測(cè)材料軸線平行或垂直,沿與被測(cè)材料的軸線方向垂直地緩慢搖動(dòng)探頭,屏幕上的讀數(shù)將有規(guī)則的變化,選擇讀數(shù)中的zui小值,作為材料的準(zhǔn)確厚度。選擇探頭串間隔層板與被測(cè)材料軸線交角方向的標(biāo)準(zhǔn)取決于材料的曲率,直徑較大的管材,選擇探頭串音隔層板與管子軸線垂直,直徑較小的管材,則選擇與管子軸線平行和垂直兩種測(cè)量方法,取讀數(shù)中的zui小值作為測(cè)量厚度。
5.當(dāng)測(cè)量復(fù)合外形的材料(如管子彎頭處)時(shí)可采用第四點(diǎn)介紹的方法,所不同的是要進(jìn)行二次測(cè)量,分別讀取探頭串音隔層板與軸線垂直4e0e平行的兩個(gè)數(shù)值,其較小的一個(gè)數(shù)作為該材料在測(cè)量點(diǎn)處的厚度。
6.為了得到一個(gè)令人滿意的超聲響應(yīng),被測(cè)材料的另一表面必須與被測(cè)面平行或同軸,否則將引起測(cè)量誤差或根本無(wú)讀數(shù)顯示。
7.材料的厚度與超聲波傳播速度均受溫度的影響,若對(duì)測(cè)量精度要求較高時(shí),可用相同材料的試塊在相同溫度條件下分別測(cè)量,計(jì)算出溫度對(duì)該材料的測(cè)量誤差,提供參數(shù)去校正它,對(duì)于鋼鐵來(lái)說(shuō),高溫將引起較大的誤差,可用此法來(lái)補(bǔ)償校正。
8.為了能得到令人滿意的測(cè)量精度,選擇具有被測(cè)材料相同的材質(zhì)和相近的厚度的試塊。取均勻被測(cè)材料用千分尺測(cè)量后就能zui為一個(gè)試塊。對(duì)于薄材料,在它的厚度接近于探頭測(cè)量下*,不要測(cè)量低于下限厚度的材料。如果一個(gè)厚度范圍是可以估計(jì)的,那么試塊的厚度應(yīng)選上限值。大部分鍛件和鑄件的內(nèi)部結(jié)構(gòu)具有方向性,在不同的方向上,聲速將會(huì)有少量變化,為了解決這個(gè)問題,試塊應(yīng)具有與被測(cè)材料相同方向的內(nèi)部結(jié)構(gòu),聲波在試塊中的傳播方向也要與在被測(cè)材料中的方向相同。在實(shí)際測(cè)量中被測(cè)材料的聲速可能是未知的,這時(shí)可以通過下面的公式計(jì)算出被測(cè)物體的厚度:
h0=(h0/h1)×h1
h0:被測(cè)物體實(shí)際厚度h1:被測(cè)物體用超聲測(cè)厚儀測(cè)得的厚度
h0:試塊的實(shí)際厚度 h1:試塊用超聲測(cè)厚儀測(cè)得的厚度
9.測(cè)量中的幾種方法: a)單測(cè)量法:在一點(diǎn)的測(cè)量。 b)雙測(cè)量法:在一點(diǎn)處用探頭進(jìn)行兩次測(cè)量,兩次測(cè)量中探頭串音隔層辦要互相垂直。c)多點(diǎn)測(cè)量法:在某一測(cè)量范圍內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量,取zui小值為材料厚度值。
三:測(cè)量誤差的預(yù)防方法
1.小薄材料使用超聲波測(cè)厚儀,當(dāng)被測(cè)材料的厚度降到探頭使用下限以下時(shí),將導(dǎo)致測(cè)量誤差,必要時(shí),zui小厚度可用試塊比較法測(cè)得。當(dāng)測(cè)量小薄材料時(shí),有時(shí)會(huì)發(fā)生一種稱為“雙重折射”的錯(cuò)誤結(jié)果,它的結(jié)果為顯示讀數(shù)是實(shí)際厚度的二倍,另一種錯(cuò)誤結(jié)果被稱為“脈沖包絡(luò)、循環(huán)跳躍”,它的結(jié)果是測(cè)得值大于實(shí)際厚度,為防止這類誤差,測(cè)臨界探頭使用下限的材料時(shí)應(yīng)重復(fù)測(cè)量核對(duì)。
2.銹斑、腐蝕凹坑等被測(cè)材料另一表面的銹斑凹坑等將引起讀數(shù)無(wú)規(guī)則地變化,在情況下甚至無(wú)讀數(shù),很小的銹點(diǎn)有時(shí)是很難發(fā)現(xiàn)的。當(dāng)發(fā)現(xiàn)凹坑或感到懷疑時(shí),這個(gè)區(qū)域的測(cè)量就得小心,可選擇探頭串音隔層板不同角度的定位來(lái)作多次測(cè)試。
3.探頭的磨損探頭表面為丙烯樹脂,長(zhǎng)期使用會(huì)使粗糙度增高,導(dǎo)致靈敏度下降,用戶在可以確定為此原因造成誤差的情況下,可用砂紙或油石少量打磨探頭表面使其平滑并平行度。如仍不穩(wěn)定,則需更換探頭。
4.“zero”鍵的使用此鍵只能用于將探頭耦合在儀器面板上的標(biāo)準(zhǔn)試塊上進(jìn)行校準(zhǔn),而不得在其它試塊上使用此鍵,否則將引起測(cè)量錯(cuò)誤。
5.層迭材料、復(fù)合材料要測(cè)量未經(jīng)耦合的層迭材料是不可能的,因超聲波無(wú)法穿透未經(jīng)耦合的空間。又因超聲波不能在復(fù)合材料中以勻速傳播,所以用超聲反射原理測(cè)量厚度的儀器均不適于測(cè)量層迭材料和復(fù)合材料。
6.反常的厚度讀數(shù)操作者應(yīng)具備辨別反常讀數(shù)的能力,通常銹斑、腐蝕凹坑、被測(cè)材料內(nèi)部缺陷都將引起反常讀數(shù)。解決辦法可參考第6、7條。必要時(shí)可用超聲波探傷儀做更仔細(xì)的檢查。
7.耦合劑的使用和選擇耦合劑是用來(lái)作為探頭與被測(cè)材料之間的高頻超聲能量傳遞的。如果選擇種類或使用方法不當(dāng)將有可能造成誤差或耦合標(biāo)志閃爍,無(wú)法測(cè)值。耦合劑應(yīng)適量使用,涂抹均勻。選擇合適種類的耦合劑是重要的,當(dāng)使用在光滑材料表面時(shí),低粘度的耦合劑(如隨機(jī)配置的耦合劑、清機(jī)油等)是很合適的。當(dāng)使用在粗糙材料表面、或垂直表面及頂面時(shí),可使用粘度較高的耦合劑(如甘油膏、黃油、潤(rùn)滑脂等)。各種配方的耦合劑各地均有售。
四:常用的測(cè)厚儀
有北京時(shí)代,濟(jì)寧科電等
時(shí)代th100 科電hch2000
上一個(gè):HDS-1EF/C+
下一個(gè):磁力攪拌電熱套的主要注意事項(xiàng)介紹

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